F1探头是涂层测厚仪磁性法测量的通用标准探头，测量范围0-1250um，基本覆盖大部分涂层厚度范围，也是TT270涂层测厚仪的标配探头。
N1探头是涡流法涂层测厚仪测量的通用标准探头，测量范围0-1250um，基本覆盖大部分涂层厚度范围，也是TT270覆层测厚仪的标配探头。
TT270覆层测厚仪选配F1/90探头，主要用于管材内壁的涂层厚度测量。它细长的身形可以轻松的深入其它探头无法到达的细管中。夹层和细缝中的涂层厚度测量也是它的拿手好戏。
TT270涂镀层测厚仪选配F10探头，测量范围由标配的0-1250um扩展至0-10000um，主要用于大厚度的涂层测量。选配F10探头还应增配2000um、4000um、8000um的标准校准片，用于校准仪器。
TT270涂镀层测厚仪选配F400探头，主要用于较薄厚度的涂层测量，可获得更精确的测量结果和更高的重复性，另外在管材基体直径较小或者被测区域接触面积较小时，F400探头也是最佳的选择。
TT270漆膜测厚仪选配CN02探头，主要用于测量线路板上的铜箔厚度，检测范围在10- 200um之间。